全國半導體器件標準化技術(shù)委員會(huì )集成電路分技術(shù)委員會(huì )(SAC/TC78/SC2)下屬的集成電路電磁兼容標準工作組(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“工作組")于2022年4月27日、2022年5月10日和2022年5月27日通過(guò)線(xiàn)上分別召開(kāi)了三次工作組標準討論會(huì )。
三次會(huì )議共討論9項國家標準,其中2項為集成電路電磁兼容建模標準,另外7項為集成電路電磁兼容測量方法標準,具體如下表所示:
集成電路電磁兼容建模標準 | 《集成電路電磁兼容建模第2部分:集成電路電磁干擾特性仿真模型傳導發(fā)射建模(ICEM-CE)》(工作組討論稿) |
《集成電路電磁兼容建模 第3部分:集成電路電磁干擾特性仿真模型 輻射發(fā)射建模 (ICEM-RE)》(工作組討論稿) | |
集成電路電磁兼容測量方法標準 | 《集成電路 電磁發(fā)射測量 第3部分:表面掃描法》(工作組討論稿) |
《集成電路 電磁發(fā)射測量 第8部分:輻射發(fā)射測量 帶狀線(xiàn)法》(工作組討論稿) | |
《集成電路 電磁抗擾度測量 第3部分:大電流注入(BCI)法》(工作組討論稿) | |
《集成電路 電磁抗擾度測量 第9部分:輻射抗擾度測量 表面掃描法》(工作組討論稿) | |
《集成電路 電磁發(fā)射測量 第5部分:傳導發(fā)射測量 工作臺法拉第籠法》(工作組討論稿) | |
《集成電路 電磁發(fā)射測量 第6部分:傳導發(fā)射測量 磁場(chǎng)探頭法》(工作組討論稿) | |
《集成電路 電磁抗擾度測量 第5部分:工作臺法拉第籠法》(工作組討論稿) |
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